[发明专利]一种电容阵列寄生效应的补偿电路和抵消方法有效

专利信息
申请号: 201711205212.3 申请日: 2017-11-27
公开(公告)号: CN107800435B 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 潘少辉;胡胜发 申请(专利权)人: 广州安凯微电子股份有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510555 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请属于电子电路设计技术领域,具体涉及一种电容阵列寄生效应的补偿电路和抵消方法,包括:第一补偿电容、第二补偿电容、第一采样开关、第二采样开关、第三采样开关和第四采样开关;在采样相,差分电路的同相输入端的端口开关和反相输入端的端口开关闭合,第二采样开关和第四采样开关断开,第一补偿电容和第二补偿电容被断路,差分电路的同相输入端的电容阵列与差分电路的反相输入端的电容阵列充电,产生寄生电容;在非采样相,差分电路的同相输入端的端口开关和反相输入端的端口开关断开,第一采样开关和第三采样开关断开,第二采样开关和第四采样开关闭合,第一补偿电容和第二补偿电容充电,补偿在采样相时差分电路产生的寄生电容。
搜索关键词: 一种 电容 阵列 寄生 效应 补偿 电路 抵消 方法
【主权项】:
一种电容阵列寄生效应的补偿电路,其特征在于,应用于差分电路,所述差分电路的同相输入端连接第一电容阵列,所述差分电路的反相输入端连接第二电容阵列,所述补偿电路包括:第一补偿电容、第二补偿电容、第一采样开关、第二采样开关、第三采样开关、第四采样开关、第一端口开关、第二端口开关;所述差分电路的同相信号采样端连接所述第一端口开关的第一端,所述第一端口开关的第二端连接所述差分电路的同相输入端;所述差分电路的反相信号采样端连接所述第二端口开关的第一端,所述第二端口开关的第二端连接所述差分电路的反相输入端;所述第一补偿电容与所述第二采样开关串联在所述第一端口开关的第一端和第二端口开关的第二端之间,所述第一采样开关并联在所述第一补偿电容两端;所述第二补偿电容与所述第四采样开关串联在所述第二端口开关的第一端和第一端口开关的第二端之间,所述第三采样开关并联在所述第二补偿电容两端;在采样相,所述第一端口开关和第二端口开关闭合,同时,所述第二采样开关和所述第四采样开关断开,所述第一电容阵列与所述第二电容阵列充电产生寄生电容;在非采样相,所述第一端口开关和所述第二端口开关断开,同时,所述第一采样开关和所述第三采样开关断开,所述第二采样开关和所述第四采样开关闭合,所述第一补偿电容和所述第二补偿电容充电,抵消在采样相时所述差分电路产生的寄生电容。
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