[发明专利]一种天基干涉成像雷达高度计的干涉定标方法及系统有效
申请号: | 201711158570.3 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN108007476B | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | 谭洪;李盛阳;刘志文 | 申请(专利权)人: | 中国科学院空间应用工程与技术中心 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01S7/40;G01S13/90 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立;李莹莹 |
地址: | 100094*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种天基干涉成像雷达高度计的干涉定标方法及系统,该方法包括:根据参考目标的高度信息和通过天基干涉成像雷达高度计获得的轨道和斜距参数,确定参考目标每个像素点的雷达视角;接着对解缠相位随雷达视角的空间变化关系进行多项式拟合;然后分别确定解缠相位和斜距对雷达视角的敏感性;再确定基线长度和基线倾角;最后确定干涉相位偏置。该系统包括:雷达视角计算模块、拟合系数计算模块、敏感性计算模块、确定干涉基线模块和确定干涉相位偏置模块。本发明通过拟合估计解缠相位对雷达视角的敏感性,可将干涉基线和干涉相位偏置的估计分离开来,最终实现基线长度、基线倾角和干涉相位偏置三个参数的完整估计。 | ||
搜索关键词: | 一种 基干 成像 雷达 高度计 干涉 定标 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种天基干涉成像雷达高度计的干涉定标方法,其特征在于,该干涉定标方法包括:S1,根据参考目标的高度信息和天基干涉成像雷达高度计获得的轨道和斜距参数,确定雷达视角;S2,利用多项式拟合模型确定所述参考目标的解缠相位随所述雷达视角的空间变化关系,并根据所述参考目标的解缠相位和所述空间变化关系,利用最小二乘算法确定多项式拟合系数;S3,根据所述多项式拟合系数,确定所述解缠相位对所述雷达视角的敏感性,同时根据所述参考目标的高度信息、所述轨道和斜距参数,确定所述斜距对所述雷达视角的敏感性;S4,根据所述解缠相位对所述雷达视角的敏感性,计算所述天基干涉成像雷达高度计的基线长度初始值,并根据所述基线长度初始值、所述斜距参数和所述斜距对所述雷达视角的敏感性,确定准确的基线长度和基线倾角;S5,根据所述准确的基线长度和基线倾角,确定干涉相位偏置的估计值。
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