[发明专利]一种针对处理器的自动化测试方法在审
| 申请号： | 201711086977.X | 申请日： | 2017-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN107908509A | 公开（公告）日： | 2018-04-13 |
| 发明（设计）人： | 曾涛;万勇 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种处理器测试技术，尤其涉及一种针对处理器的自动化测试方法，其中，包括步骤S1，进行测试准备；步骤S2，设置待测试的处理器的运行电压和时钟频率；步骤S3，以当前运行电压和时钟频率进行负载测试；步骤S4，判断处理器进行当前负载测试时是否正常；若是，则转向步骤S5；若否，则将当前运行电压提升一第一增长值并返回步骤S2；步骤S5，记录当前时钟频率对应的通过负载测试的运行电压作为测试结果，并判断当前时钟频率是否达到上限；若是，则结束；若否，则将当前时钟频率提升一第二增长值并返回步骤S2；能够实现处理器的自动化测试，迅速、有效地获得处理器正常运行时时钟频率对应的运行电压，并且能够适用于多个平台。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 处理器 自动化 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种针对处理器的自动化测试方法，其特征在于，包括：步骤S1，进行测试准备；步骤S2，设置待测试的处理器的运行电压和时钟频率；步骤S3，以当前所述运行电压和所述时钟频率进行负载测试；步骤S4，判断所述处理器进行当前所述负载测试时是否正常；若是，则转向步骤S5；若否，则将当前所述运行电压提升一第一增长值并返回所述步骤S2；步骤S5，记录当前所述时钟频率对应的通过所述负载测试的所述运行电压作为测试结果，并判断当前所述时钟频率是否达到上限；若是，则结束；若否，则将当前所述时钟频率提升一第二增长值并返回所述步骤S2。
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