[发明专利]用于航天器的元器件的测试方法在审
| 申请号： | 201711073003.8 | 申请日： | 2017-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN107907761A | 公开（公告）日： | 2018-04-13 |
| 发明（设计）人： | 雷剑宇;李光日;霍佳婧;王冉;于磊;张振华 | 申请（专利权）人： | 北京空间技术研制试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11538 | 代理人： | 陆鑫,延慧 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种航天器元器件的测试方法，包括以下步骤a.将航天器元器件置于密封容器中，并且将所述航天器元器件通过测试电缆与所述密封容器外的测试设备电连接；b.向所述密封容器充压至大于所述航天器元器件的内部压力，并持续所述密封容器内的压力环境；c.将所述密封容器降压，然后再次充压至大于所述航天器元器件的内部压力，并持续所述密封容器内的压力环境；d.持续循环步骤b～c，并且利用所述测试设备对所述航天器元器件全程监测，取得监测结果后，完成测试。根据本发明的航天器元器件的测试方法能够有效模拟测试航天器元器件的外部压力高于其内部压力时的工作状态，测试结果准确、可信并且有效。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 航天器 元器件 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种用于航天器的元器件的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：a.将用于航天器的元器件置于密封容器中，并且通过测试电缆将所述元器件与所述密封容器外的测试设备电连接；b.增加所述密封容器内的压力至大于所述元器件的内部压力，并维持所述密封容器内的压力；c.降低所述密封容器的压力至常压后再次增加至大于所述元器件的内部压力，并维持其不变；d.循环步骤b～c，并且利用所述测试设备检测所述元器件形状变化数值及工作状态。
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