[发明专利]一种螺旋扫描式表面形貌测量系统的对中方法有效
申请号: | 201711063479.3 | 申请日: | 2017-11-02 |
公开(公告)号: | CN107860341B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 崔玉国;阮超;项四通;梁丹;马剑强;刘康;卢志诚 | 申请(专利权)人: | 宁波大学 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27;G01B7/31;G01B11/24;G01B5/20 |
代理公司: | 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466 | 代理人: | 蔡菡华 |
地址: | 315211 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种螺旋扫描式表面形貌测量系统的对中方法,特点是在Z向旋转平台上固定对中试件,对中试件的下表面为水平面、上表面为倾斜面,然后控制Z向旋转平台转动一周,测头测得其探针相对于对中试件上表面的运动轨迹的高度差为Δh,再控制X向直线平台沿X向移动微小距离Δx',然后控制Z向旋转平台转动一周,测头测得其探针相对于对中试件上表面的运动轨迹的高度差为Δh';将所测得的两次高度差Δh、Δh'代入关系式,得到测头探针的扫描起点与Z向旋转平台的旋转中心之间的X向对中误差Δx和Y向对中误差Δy;优点是对中操作简单,对中速度快,且对中精度和分辨率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 螺旋 扫描 表面 形貌 测量 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种螺旋扫描式表面形貌测量系统的对中方法,其所使用的测量系统包括基座、立柱、X向直线平台、Y向直线平台、Z向直线平台和Z向旋转平台,所述的Y向直线平台位于所述的X向直线平台的下方,所述的基座上设置有用于驱动所述的Y向直线平台沿Y向移动的Y向驱动机构,所述的Y向直线平台上设置有用于驱动所述的X向直线平台沿X向移动的X向驱动机构,所述的Z向旋转平台位于所述的X向直线平台的上方,所述的X向直线平台上设置有用于驱动所述的Z向旋转平台旋转的Z向旋转驱动机构,所述的立柱垂直固定在所述的基座上,所述的立柱上设置有用于驱动所述的Z向直线平台沿Z向移动的Z向驱动机构,所述的Z向直线平台上固定设置有测头,所述的X向直线平台上固定设置有X向线位移传感器,所述的Y向直线平台上固定设置有Y向线位移传感器,所述的Z向直线平台上固定设置有Z向线位移传感器,所述的Z向旋转平台上固定设置有角位移传感器,其特征在于该测量系统的对中方法包括以下具体步骤:(1)、在Z向旋转平台上固定对中试件,对中试件的下表面为水平面、上表面为倾斜面;(2)、控制Z向旋转驱动机构驱动Z向旋转平台转动一周,测头测得其探针相对于对中试件上表面的运动轨迹的高度差为Δh;(3)、控制X向驱动机构驱动X向直线平台沿X向移动微小距离Δx',然后控制Z向旋转驱动机构驱动Z向旋转平台转动一周,测头测得其探针相对于对中试件上表面的运动轨迹的高度差为Δh';(4)、将所测得的两次高度差Δh、Δh'代入关系式:![]()
得到测头探针的扫描起点与Z向旋转平台的旋转中心之间的X向对中误差Δx和Y向对中误差Δy,式中:α为对中试件的上表面与水平面之间的夹角,即对中试件的倾斜面的倾角;(5)、控制X向驱动机构驱动X向直线平台向靠近测头探针的方向移动Δx距离,控制Y向驱动机构驱动Y向直线平台向靠近测头探针的方向移动Δy距离,使测头探针的扫描起点与Z向旋转平台的旋转中心重合。
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