[发明专利]光学镜头残余偏振测试装置在审

专利信息
申请号: 201711038614.9 申请日: 2017-10-30
公开(公告)号: CN107764520A 公开(公告)日: 2018-03-06
发明(设计)人: 王雷;阴万宏;许荣国;张博妮;汪建刚;马世邦;解琪 申请(专利权)人: 西安应用光学研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 西北工业大学专利中心61204 代理人: 陈星
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种光学镜头残余偏振测试装置,该装置采用三端开口的积分球和卤钨灯作为光源,并采用聚焦透镜对光束进行聚焦,采用由消色差滤光片、偏振器和1/4波片组成的起偏光学系统提供特定偏振状态特定波长的测量光束;采用大口径离轴抛物面反射镜对测量光束进行准直后再通过被测光学镜头;并利用光电探测器对经过放大器放大的偏振光信号进行测量,从而实现了波长范围0.45μm∽1.1μm、偏振度测量范围0.1∽0.9的光学镜头残余偏振度测量。
搜索关键词: 光学 镜头 残余 偏振 测试 装置
【主权项】:
一种光学镜头残余偏振测试装置,其特征在于:包括光源系统、聚焦透镜、起偏光学系统、准直光学系统和光电探测处理系统;所述光源系统提供均匀无偏振光;所述起偏光学系统包括滤光片组、偏振器和消色差1/4波片;滤光片组能够将不同中心波长的滤光片插入光路;偏振器能够产生0°、45°、90°和135°的线偏振光;消色差1/4波片由石英晶体和MgF2晶体制成,能够在0.35μm~2.1μm波长范围内实现均匀相位延迟,且消色差1/4波片能够受控移入和移出光路;由光源系统发出的均匀无偏振光经过聚焦透镜后聚焦到滤光片上,再经过起偏光学系统后,得到不同偏振方向的测量光束,通过准直光学系统后,被光电探测处理系统接收;所述光电探测处理系统包括放大电路、光电探测器、光学镜头残余偏振测量模块;光电探测器对输入的光信号进行光电转换,而后通过放大电路进行放大后输入光学镜头残余偏振测量模块;所述光学镜头残余偏振测量模块采集不同波长、不同偏振方向的偏振光对应的输入电压信号,依据斯托克斯公式计算出被测光学镜头的斯托克斯参数,其中S0为入射光总强度;S1表示水平方向与垂直方向上的线偏振光的强度差;S2表示+45°方向与‑45°方向上的线偏振光的强度差;S3表示左旋偏振光与右旋偏振光的强度差;偏振度P由斯托克斯参数根据以下公式P=S12+S22+S32S0]]>计算得出。
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