[发明专利]多功能抗冲击性能测试装置有效

专利信息
申请号: 201710979262.0 申请日: 2017-10-19
公开(公告)号: CN107807054B 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: 江国栋 申请(专利权)人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G01N3/303 分类号: G01N3/303;G01N3/02
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰;阳志全
地址: 430070 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种多功能抗冲击性能测试装置,包括底座、固定架、固定机构、摆动件以及测试球,固定机构为两个,间隔且相对地设于所述底座上,用于分别固定片状的待测试对象的两端;所述固定架连接在所述底座上,所述摆动件可上下摆动地设于所述固定架上,所述摆动件的末端在所述摆动件摆动至下方时撞击片状的待测试对象的侧面,所述测试球设于所述固定架上、两个所述固定机构的间隔区域的正上方,在所述测试球自所述固定架掉落后冲击两个所述固定机构之间的片状的待测试对象的上表面。利用本发明的多功能抗冲击性能测试装置可以同时实现正面冲击试验和侧面冲击试验的测试,提高了装置的实用性,节约了测试装置的成本,减小了测试装置的占用空间。
搜索关键词: 多功能 冲击 性能 测试 装置
【主权项】:
一种多功能抗冲击性能测试装置,其特征在于,包括底座(10)、固定架(20)、固定机构(30)、摆动件(40)以及测试球(50),所述固定机构(30)为两个,间隔且相对地设于所述底座(10)上,用于分别固定片状的待测试对象(P)的两端;所述固定架(20)连接在所述底座(10)上,所述摆动件(40)可上下摆动地设于所述固定架(20)上,所述摆动件(40)的末端在所述摆动件(40)摆动至下方时撞击片状的待测试对象(P)的侧面,所述测试球(50)设于所述固定架(20)上、两个所述固定机构(30)的间隔区域的正上方,在所述测试球(50)自所述固定架(20)掉落后冲击两个所述固定机构(30)之间的片状的待测试对象(P)的上表面。
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