[发明专利]一种光芯片自动耦合测试系统及方法

摘要

本发明涉及一种测试系统及方法，属于光器件领域，具体是涉及一种光芯片自动耦合测试系统及方法。本发明采用的光功率计为多通道设备，结合光矩阵切换光路功能时分复用一套测试设备，支持4‑8台工位的光芯片自动耦合及测试，优化了测试设备使用效率，节约设备及人工成本，实现光芯片的自动化耦合及自动化测试。

主权项

1.一种光芯片自动耦合测试系统，其特征在于，包括：自动耦合台，用于将光芯片的输入端和输出端分别耦合至光矩阵；测试设备，通过光矩阵连接所述自动耦合台输入端，用于向光芯片提供测试光；测试站，通过光矩阵连接所述自动耦合台输出端，用于根据接收到的光进行测试；服务器，用于控制所述光矩阵从而将测试光源经选定的光芯片耦合至测试设备中；所述测试设备包括：可调激光器TLS，偏振控制器，ASE光源；所述ASE光源输出端通过1*N路耦合器连接自动耦合台；还包括：PD光电二极管，连接光矩阵和测试站，用于实时测量和自动耦合台输出端相连的光矩阵输出光功率；所述服务器为完成设备控制及自动测试包含有自动化耦合测试服务端程序，用于根据所述测试站请求信息分配所述测试设备，并自动切换所述光矩阵进行自动测试；所述服务器连接N个测试站、测试设备、光矩阵；自动化耦合测试服务端程序包含三个功能模块：多工位抢占式通信、设备自动测试、测试指标运算；设备自动测试过程又包含如下三类：偏振态校准、存光及指标测试；其中，多工位抢占式通信采用指定长度为N的先入先出式队列，其接收通信指令包含测试项内容、待测光芯片SN、待测光芯片输入端口号、待测光芯片输出端口号；其输出通信指令包含等待超时时间、通信建立反馈、指令执行反馈及详细测试结果；其中，指标测试之前需要先进行偏振态校准及多次存光，偏振态校准过程扫描偏振控制器及光功率计，可得到TE模态下与TM模态下偏振控制器测试参数，校准过程应替代光芯片为偏振片；存光过程则是得到系统环路测试光功率，多次存光则对应不同偏振态、不同波长范围，存光过程应替代光芯片为光纤直接连接；其中，设备自动测试过程需同步可调激光器、偏振控制器和多通道光功率计，通过三根BNC信号线发送与接收Trigger信号，其连接如下：可调激光器Trigger输出端与偏振控制器Trigger输出端接入2*1Trigger信号盒输入端，信号盒输出端接入多通道光功率计Trigger输入端；在偏振态校准过程，信号盒连接偏振控制器与光功率计；在存光及指标测试过程，信号盒连接可调激光器与光功率计。