[发明专利]一种pcell验证中连接性检查的方法有效
| 申请号： | 201710845785.6 | 申请日： | 2017-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN107563091B | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 王勇;侯劲松;张萍;李宁 | 申请（专利权）人： | 天津蓝海微科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300457 天津市开发区第*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路辅助设计软件工具中Pcell开发及验证领域。对应集成电路芯片制造的每种工艺，都需要开发一套Pcell(可变参数单元)，以便进行芯片电路和版图的设计。Pcell开发必须保证Schematic和Layout两者在连接性上是一致的，这样才能保证芯片的电路图和版图工作的一致性。本发明提出一种验证Pcell连接性的方法，基于Cadence芯片设计工具提供的Skill语言，通过计算机程序读入连接层定义和参数列表，生成一组并行连接的例化Pcell，并对它们进行LVS比对检查。其中特别处理了衬底连接性及PinSwap问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcell 验证 连接 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种Pcell验证中连接性检查的方法，定义连接层时采用分类方法，分别定义Metal，N型，P型，Poly的4类连接方式，从而可以对所有层都进行有效排序。
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