[发明专利]磁共振成像系统的发射天线电平传感器的检测方法和装置有效
| 申请号： | 201710818209.2 | 申请日： | 2017-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN109490801B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | 王俊;张秋艺 | 申请（专利权）人： | 西门子（深圳）磁共振有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/32 | 分类号： | G01R33/32;G01R35/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施方式公开了磁共振成像系统的发射天线电平传感器的检测方法和装置。方法包括：在发射线圈磁场的预定位置处布置包含第一液体的第一体模，基于发射天线电平传感器的第一功率检测值确定第一体模的第一吸收功率；在预定位置处布置包含第二液体的第二体模，基于发射天线电平传感器的第二功率检测值确定第二体模的第二吸收功率；计算第一吸收功率与第二吸收功率的差值，并基于差值与预定的基准值的比较结果确定发射天线电平传感器的漂移状态。无需对发射天线电平传感器执行硬件改动即可检测发射天线电平传感器的漂移状态，显著降低成本。另外，可以由发射天线电平传感器提供方确定基准值，还可以由用户自行确定基准值，实施方式灵活多样。 | ||
| 搜索关键词： | 磁共振 成像 系统 发射 天线 电平 传感器 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种磁共振成像系统的发射天线电平传感器的检测方法，其特征在于，包括：在发射线圈磁场的预定位置处布置包含第一液体的第一体模，基于发射天线电平传感器的第一功率检测值确定第一体模的第一吸收功率；在所述预定位置处布置包含第二液体的第二体模，基于所述发射天线电平传感器的第二功率检测值确定所述第二体模的第二吸收功率；计算所述第一吸收功率与所述第二吸收功率的差值，并基于所述差值与预定的基准值的比较结果确定所述发射天线电平传感器的漂移状态。
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