[发明专利]一种通信光纤宏弯损耗测试方法有效
申请号: | 201710733474.0 | 申请日: | 2017-08-24 |
公开(公告)号: | CN107449588B | 公开(公告)日: | 2020-03-31 |
发明(设计)人: | 李琳莹;甘露;宋志佗;李秋云 | 申请(专利权)人: | 成都泰瑞通信设备检测有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 郭受刚 |
地址: | 610000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种通信光纤宏弯损耗测试方法,将待测通信光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈后,置于光功率吸收剂中,采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试,从而实现在测试过程中有效吸收泄露出光纤的光功率,抑制W波对测试的影响,获得光纤宏弯损耗的真实数值,保证了宏弯损耗测试的准确性和稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 通信 光纤 损耗 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种通信光纤宏弯损耗测试方法,其特征在于,包括如下步骤:A、按照测试要求制备待测光纤,具体为将待测光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈;B、将待测光纤置于光功率吸收剂中;C、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。
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