[发明专利]一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备在审
| 申请号： | 201710709986.3 | 申请日： | 2017-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN107733537A | 公开（公告）日： | 2018-02-23 |
| 发明（设计）人： | 甘绍光 | 申请（专利权）人： | 广东小天才科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29;H04B17/327;H04B5/00 |
| 代理公司： | 深圳青年人专利商标代理有限公司44350 | 代理人： | 吴桂华 |
| 地址： | 523000 广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明适用于移动通信终端射频性能测试技术领域，公开了一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备。类暗室耦合测试方法包括以下步骤将无线通信设备通过夹具固定；将无线通信设备的天线和测试天线辐射方向相向；调整无线通信设备和测试天线的位置，使无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值，用坏机校验后进行测试。类暗室耦合测试设备，包括屏蔽箱、设置于屏蔽箱内且用于夹持无线通信设备的夹具、设置于屏蔽箱内且与夹具相向间距设置的测试天线和用于监测测试天线和无线通信设备之耦合辐射功率的耦合辐射功率检测装置。本发明所提供的一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法和测试设备，可以有效拦截坏机，测试可靠性佳。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 射频 性能 测试 暗室 耦合 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于射频性能测试的类暗室耦合测试方法，其特征在于，包括以下步骤：将无线通信设备通过夹具固定；将固定有无线通信设备的夹具放置于屏蔽箱内，使所述无线通信设备悬空，且无线通信设备的天线和测试天线辐射方向相向；调整无线通信设备和测试天线的位置，使无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值，记录或固定测试天线和无线通信设备的耦合辐射功率达到最大值的位置；将所述无线通信设备替换为功率低于设定值的坏机，检验测试结果，若测试结果显示检测结果为坏机，则直接采用另一待测无线通信设备继续测试，若测试结果未能显示为坏机，则微调坏机和测试天线的相对位置至测试结果检测出坏机后采用另一待测无线通信设备继续测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东小天才科技有限公司，未经广东小天才科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710709986.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
