[发明专利]自动测试设备在审
申请号: | 201710700432.7 | 申请日: | 2017-08-15 |
公开(公告)号: | CN107422249A | 公开(公告)日: | 2017-12-01 |
发明(设计)人: | 王宏声;李振兴;王洪义;郭启升;耿喜平 | 申请(专利权)人: | 北京日扬弘创科技有限公司;王宏声 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 韩建伟,谢湘宁 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种自动测试设备,包括机架组件;测试组件,测试组件设置在机架组件上,测试组件用于对工件进行测试;移载机构,移载机构设置在机架组件上,移载机构与测试组件间隔设置;其中,移载机构用于将工件移送至测试组件上,或将工件从测试组件上移出。本发明的自动测试设备解决了现有技术中的测试设备自动化程度较低的问题。 | ||
搜索关键词: | 自动 测试 设备 | ||
【主权项】:
一种自动测试设备,其特征在于,包括:机架组件(10);测试组件(20),所述测试组件(20)设置在所述机架组件(10)上,所述测试组件(20)用于对工件进行测试;移载机构(30),所述移载机构(30)设置在所述机架组件(10)上,所述移载机构(30)与所述测试组件(20)间隔设置;其中,所述移载机构(30)用于将所述工件移送至所述测试组件(20)上,或将所述工件从所述测试组件(20)上移出。
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