[发明专利]一种基于二次侧施加扰动的逆变器广义阻抗测量方法

摘要

本发明公开了一种基于二次侧施加扰动的逆变器广义阻抗测量方法。针对双环矢量控制的逆变器并网系统，在逆变器的内环电流控制输入端对内控制环的电流参考值施加扰动；使用采样设备对扰动施加前与扰动施加后的三相电压和电流进行采样，对获得的采样值坐标变换后获得电压和电流的幅值和相角；计算扰动量并离散傅里叶变换，进行两次测量所施加不同的扰动，用所施加的扰动和计算获得的扰动量计算获得广义阻抗；扫频测量直至测得待测频段内所有频率点的广义阻抗。本发明可以利用逆变器并网系统原有的设备对逆变器的广义阻抗进行测量，相比于使用一次侧高压扰动设备，测量更加便捷，成本更低。测得的广义阻抗可用于并网系统稳定性分析与逆变器控制设计。

主权项

一种基于二次侧施加扰动的逆变器广义阻抗测量方法，其特征在于主要包括以下三个步骤：1)针对双环矢量控制的逆变器并网系统，在逆变器的内环电流控制输入端对内控制环的电流参考值施加扰动；2)使用采样设备对扰动施加前与扰动施加后的三相电压和电流进行采样，对获得的采样值坐标变换后获得电压和电流的幅值和相角；3)计算扰动量，使用离散傅里叶变换将扰动量由时域变换到频域；4)重复步骤1)～3)并在步骤1)中所施加不同的扰动进行两次测量，根据逆变器的广义阻抗端口特性，用所施加的扰动和计算获得的扰动量计算获得广义阻抗；5)重复上述步骤1)～4)并改变步骤1)中所施加扰动的频率进行扫频，直至测得待测频段内所有频率点的广义阻抗。