[发明专利]一种基于元件的闭环测试方法有效
| 申请号： | 201710653680.0 | 申请日： | 2017-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN107450516B | 公开（公告）日： | 2019-09-20 |
| 发明（设计）人： | 郑松;张瑜;王敏;黄香平;邱菊;罗巧珍;熊华锋;何俊欣 | 申请（专利权）人： | 爱普（福建）科技有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 林晓琴 |
| 地址： | 350000 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于元件的闭环测试方法，通过组态软件进行元件组态，将每个元件的输出作为下一个元件的输入，下一个元件通过逆向组态上一个元件的算法使其得到的输出为上一个元件的输入，直到最后一个元件的输出给第一个元件的输入形成一个闭环回路的逻辑组态进行测试。本发明的闭环测试方法可以很直观看出元件执行的正确性，操作简单，且效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 元件 闭环 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于元件的闭环测试方法，其特征在于：通过组态软件进行元件组态，将每个元件的输出作为下一个元件的输入，下一个元件通过逆向组态上一个元件的算法使其得到的输出为上一个元件的输入，直到最后一个元件的输出给第一个元件的输入形成一个闭环回路的逻辑组态进行测试，其中所述逆向组态是利用组态软件对某元件算法的求解过程进行反向组态，反向组态所用的算法等同于该元件算法的逆算法。
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