[发明专利]一种基于模板匹配的试卷题目定位方法及装置有效
| 申请号： | 201710651459.1 | 申请日： | 2017-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN107423738B | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 余荣;雷俊杰;张伟池;张浩川 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G06K9/32 | 分类号： | G06K9/32;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 510062 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于模板匹配的试卷题目定位方法，包括：获取第一试卷的模板图像；利用所述模板图像确定第二试卷的样本图像的搜索区域；利用所述模板图像与所述搜索区域计算第二试卷的第一样本图像的第一相似度；判断所述第一相似度是否大于所述第二试卷的第一样本匹配度阈值，如果是，设定所述第一样本图像为所述第二试卷的定位图像。可见，本方案中，对试卷题目进行定位操作简单，试卷题目定位成本较低；且通过设定匹配度阈值，将满足所述匹配度阈值的样本图像才作为试卷的定位图像，定位准确度高。本发明还公开了一种基于模板匹配的试卷题目定位装置，同样能实现上述技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 模板 匹配 试卷 题目 定位 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种基于模板匹配的试卷题目定位方法，其特征在于，包括：S1、获取第一试卷的模板图像；S2、利用所述模板图像确定第二试卷的样本图像的搜索区域；S3、利用所述模板图像与所述搜索区域计算第二试卷的第一样本图像的第一相似度；S4、判断所述第一相似度是否大于所述第二试卷的第一样本匹配度阈值，如果是，进入S5；S5、设定所述第一样本图像为所述第二试卷的定位图像。
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