[发明专利]一种工件显微缺陷检测系统在审
申请号: | 201710628014.1 | 申请日: | 2017-07-28 |
公开(公告)号: | CN107345917A | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 张仁奇;蒋欣;代发明;袁冬 | 申请(专利权)人: | 贵州电网有限责任公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/01 |
代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所52100 | 代理人: | 商小川 |
地址: | 550002 贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | 本发明公开了一种工件显微缺陷检测系统,包括显微镜、显微镜三向位置调整平台和万向托举支架,显微镜固定连接在显微镜三向位置调整平台上,显微镜三向位置调整平台实现显微镜X向、Y向、Z向三个方向的调整,三向位置调整平台下端固定连接在万向托举支架上;本发明用于工件现场金相检验中,通过万向托举支架,能够快速实现物镜垂直于金相点表面,可以明显提高金属部件金相检验效率,极大地提高金相检验质量,减轻工作人员的劳动强度;而且万向托举支架高度可调,采用这种结构在进行工件现场金相检验时,确保显微镜物镜在物镜保护罩内并离保护罩物端距离为1~2mm,调节长度可调万向托举支架的长度就能确保显微镜有效固定。 | ||
搜索关键词: | 一种 工件 显微 缺陷 检测 系统 | ||
【主权项】:
一种工件显微缺陷检测系统,其特征在于:包括显微镜(1)、显微镜三向位置调整平台(2)和万向托举支架(3),显微镜(1)固定连接在显微镜三向位置调整平台(2)上,三向位置调整平台(2)下端固定连接在万向托举支架(3)上。
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