[发明专利]筒体密封性能检测装置有效

专利信息
申请号: 201710606626.0 申请日: 2017-07-24
公开(公告)号: CN107560795B 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 王淑红;陈红伟;刘红宇 申请(专利权)人: 北京北机机电工业有限责任公司
主分类号: G01M3/02 分类号: G01M3/02
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 廖辉;仇蕾安
地址: 101109 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种筒体密封性能检测装置,该装置包括上芯轴、下芯轴、底座、主体框架、盖板组件和密封圈,外围设备为待测试的筒体;下芯轴通过底座与地面固定连接,上芯轴与下芯轴固定连接在一起,筒体由上芯轴导向后套装在下芯轴上,筒体下端通过台阶端面与下芯轴的台阶面实现端面密封;主体框架与地面固定连接,盖板组件与主体框架活动连接,盖板组件同时与筒体的上端接触并通过密封圈实现密封,盖板组件向筒体施加沿筒体轴向的正压力实现筒体内外环境的密封,通过向下芯轴内部充满水后加压实现对筒体密封性能的测试。本发明通过空心分体式芯轴对筒体两端定位,采取注水密封加压的形式实现对筒体密封性能的可靠快速检测。
搜索关键词: 筒体 盖板组件 下芯轴 筒体密封 主体框架 上芯轴 芯轴 密封圈 地面固定 底座 密封 外围设备 密封性能检测装置 性能检测装置 测试 端面密封 活动连接 快速检测 密封加压 台阶端面 筒体两端 筒体轴向 分体式 台阶面 外环境 正压力 上端 下端 种筒 加压 注水 施加 体内
【主权项】:
1.筒体密封性能检测装置,其特征在于,该装置包括上芯轴、下芯轴、底座、主体框架、盖板组件和密封圈,外围设备为待测试的筒体;所述上芯轴为空心筒体,其一端加工有与下芯轴连接的外螺纹,另一端的外圆周面部分与筒体的内表面滑动配合,外圆周面其余部分与内表面存在间隙;所述下芯轴为一端开放一端封闭的圆柱形空腔结构,下芯轴的外圆周面上有一个直角台阶面,台阶面上方的外圆周面上加工多个透水孔,台阶面下方有一端定位圆周面,定位圆周面的下方加工加压孔;所述待测试的筒体一端粘接一个环形零件,该零件的内部具有一个台阶面;所述下芯轴通过底座与地面固定连接,上芯轴与下芯轴固定连接在一起,筒体由上芯轴导向后套装在下芯轴上,粘接的环形零件的内圆周面与下芯轴的定位圆周面配合,环形零件的内台阶面与下芯轴的直角台阶面之间设置密封圈;所述主体框架与地面固定连接,所述盖板组件与主体框架活动连接,盖板组件同时与筒体的上端接触,接触面通过安装在筒体端面上的密封圈实现密封,盖板组件向筒体施加沿筒体轴向的正压力实现筒体内外环境的密封,通过加压孔对下芯轴内部充满水后加压,实现对筒体密封性能的测试。
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