[发明专利]位移检测装置在审
| 申请号： | 201710593112.6 | 申请日： | 2017-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN107643041A | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 吉谷拓海 | 申请（专利权）人： | 梅莱克塞斯技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 孙蕾 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供减少外部干扰噪声对要检测的磁场带来的影响、并且使利用单磁极的磁铁能够检测的范围比磁检测元件的间距宽的位移检测装置。位移检测装置(3)具有磁铁(2)，其在位移方向(Ds)进行位移且为棒状，并具有长度方向与位移方向(Ds)成预定角度(θ)的形状；以及传感器(IC1)，其以预定间隔(dp)成对地配置磁检测元件组，输出该磁检测元件组的输出之差,该磁检测元件组在与位移方向(Ds)正交的x方向及z方向上对磁铁(2)形成的磁场的磁通密度进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 位移 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种位移检测装置，具有：磁铁，其在一个方向进行位移且为棒状，并具有长度方向与所述一个方向成预定角度的形状；以及传感器，其以预定间隔成对地配置磁检测元件组，该传感器输出该磁检测元件组的输出之差，该磁检测元件组在与所述一个方向正交的方向上对所述磁铁形成的磁场的磁通密度进行检测。
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