[发明专利]一种传感器测试系统在审
申请号: | 201710586036.6 | 申请日: | 2017-07-18 |
公开(公告)号: | CN107219337A | 公开(公告)日: | 2017-09-29 |
发明(设计)人: | 赵一英;杨青;曹伟;袁登鹏 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院材料研究所 |
主分类号: | G01N33/00 | 分类号: | G01N33/00 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人: | 徐彦圣 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及测试技术领域,具体涉及一种传感器测试系统,包括测试平台、光源、测试腔体、储气装置、配气装置和光学分析装置。测试腔体设置于测试平台,待检测气体传感器设置于测试腔体内,待检测气体传感器连接于光源与光学分析装置之间,测试腔体与配气装置连通。储气装置为多个,各储气装置分别与配气装置连通。配气装置根据预设配气标准获取各储气装置中的气体并配置均匀后输送至测试腔体,光学分析装置每间隔预设时长获取所述光源发出的光通过待检测器件前后的数据进而获得待检测气体传感器不同时刻的检测结果,将检测结果与预存性能数据指标进行匹配得到待检测气体传感器的测试精度和响应速度的性能。实现了对待检测气体传感器的性能检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 传感器 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种传感器测试系统,其特征在于,包括测试平台、光源、测试腔体、储气装置、配气装置和光学分析装置;所述光源、测试腔体和所述光学分析装置分别设置于所述测试平台,待检测气体传感器设置于所述测试腔体内,所述待检测气体传感器连接于所述光源与所述光学分析装置之间,所述测试腔体与所述配气装置连通,所述储气装置为多个,各所述储气装置分别与所述配气装置连通;所述配气装置根据预设配气标准获取各所述储气装置中的气体并配置均匀后输送至所述测试腔体,在所述光源向所述待检测气体传感器传输光时,所述光学分析装置每间隔预设时长获取所述光源发出的光通过所述待检测气体传感器前后的数据,进而获得待检测气体传感器不同时刻的检测结果,将所述检测结果与预存性能数据指标进行匹配得到所述待检测气体传感器的测试精度和响应速度的性能。
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