[发明专利]适用于双端SAR-ADC的DAC电容阵列及对应开关切换方法有效

专利信息
申请号: 201710497938.2 申请日: 2017-06-27
公开(公告)号: CN107359876B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 宋慧滨;杜媛;吴建辉;李红 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 210096*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种适用于双端SAR‑ADC的DAC电容阵列及对应的开关切换方法,该电容阵列包括比较器和电容阵列,比较器的输入端P端和N端分别连接正输入Vip和负输入Vin,从正、负输入分别至P、N端依次设有第一最高位电容C1‑1、第二最高位电容C1‑2和非二进制电容阵列;所有电容的上极板均接到输入电平,第一最高位电容和第二最高位电容的下极板接GND,其余电容的下极板均接参考电平Vref。该电容阵列将最高位电容拆分为两部分,一部分作为新的最高位电容,一部分与原本的二进制电容阵列结合,形成非二进制电容阵列;对应的开关切换方法通过重复动作已经切换的电容,防止比较器的共模持续下降。
搜索关键词: 适用于 sar adc dac 电容 阵列 对应 开关 切换 方法
【主权项】:
一种适用于双端SAR‑ADC的DAC电容阵列,其特征在于:包括比较器、最高位电容C1及非二进制电容阵列;所述最高位电容C1包括第一最高位电容C1‑1和第二最高位电容C1‑2,所述非二进制电容阵列包括次高位电容C2、第三位电容C3、第四位电容C4与低位电容阵列;所述非二进制电容阵列中每位电容大小为2i或多个2i之和,i为自然数;且,最高位电容C1大于次高位电容C2;所述第一最高位电容C1‑1的大小权重与次高位电容C2的大小权重相等,第二最高位电容C1‑2的大小权重与第三位电容C3的大小权重相等;所述比较器包括正输入端P端和负输入端N端,P端通过采样开关连接至正输入Vip,N端通过采样开关连接至负输入Vin;沿正输入Vip至P端和负输入Vin至N端,均依次设有第一最高位电容C1‑1、第二最高位电容C1‑2和非二进制电容阵列;其中,所有电容的上极板均连接至输入电平,第一最高位电容C1‑1和第二最高位电容C1‑2的下极板接GND,非二进制电容阵列的下极板均接参考电平Vref。
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