[发明专利]一种用于RRU的整机测试、老化方法及系统

摘要

本发明提供一种用于射频拉远单元RRU的整机测试、老化系统及方法，在测试模式下通过控制射频拉远单元进行发送无线帧基带信号到下行以及采集上行射频调制信号进行上下行射频指标分析，在老化模式下通过光纤将上下行链路环回，基带信号由上行环回到下行，从而达到老化下测试完整的射频拉远单元上下行链路。本发明系统不需要额外的模拟BBU或其他测试板卡设备支持，自身就可以完成上下行链路测试，提高调试效率，简化平台环境，降低操作复杂度和测试成本，灵活性好，不仅适用于单盘调试自测，也适用于整机的批量测试和老化。

主权项

一种用于RRU的整机测试、老化系统，其特征在于：包括光纤、射频拉远单元、频谱分析仪，信号发生源、本地控制PC；射频拉远单元分别与频谱分析仪，信号发生源、本地控制PC连接；所述射频拉远单元包括光模块、ARM、FPGA、内存颗粒、射频单元，FPGA分别与光模块、ARM、内存颗粒、射频单元连接；其中，所述光模块用于实现信号的光电转换；所述ARM用于对FPGA进行命令配置，存储下行基带和上行采集的数据文件；所述FPGA用于实现CPRI协议以及上下行中频处理，并通过ARM的控制实现发射基带数据、采集上行数据功能；所述内存颗粒用于存储FPGA发源数据和采集到的数据；所述射频单元用于对下行FPGA发送的基带信号进行发射机链路上的数据处理并将处理后的射频信号发送给频谱分析仪，接收上行信号源发过来的射频信号，将射频信号处理后发送给FPGA进行后续处理；所述的光纤用于在高低温老化情况下进行上下行链路环回；所述信号发生源，用于产生射频拉远单元射频测试所需的射频信号，并提供10M的参考信号作为射频拉远单元的锁相环参考来实现系统同源；所述频谱分析仪，用于对射频拉远单元接收射频信号进行发射机指标测试，并提供10M的参考信号作为射频拉远单元的锁相环参考来实现系统同源；所述本地控制PC 用于向所述射频拉远单元是ARM发送调试或测试指令，将本地下行所需的基带信号数据文件发送给所述射频拉远单元，且接收射频拉远单元采集到的上行测试数据并保存于本地文件中。