[发明专利]检测器和具有该检测器的发射成像设备有效
申请号: | 201710414287.6 | 申请日: | 2017-06-05 |
公开(公告)号: | CN107272043B | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
发明(设计)人: | 杨明明;谢思维;翁凤花;赵指向;龚政;黄秋;彭旗宇 | 申请(专利权)人: | 中派科技(深圳)有限责任公司 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 | 代理人: | 徐丁峰;付伟佳 |
地址: | 518063 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种检测器和具有该检测器的发射成像设备。所述检测器包括闪烁晶体阵列,其包括多个闪烁晶体;光传感器阵列,其耦合至闪烁晶体阵列的端面,光传感器阵列包括多个光传感器,多个光传感器中的至少一个分别耦合有多个闪烁晶体,其中,多个闪烁晶体的未与光传感器阵列耦合的面均设置有光反射层,且所述面中与相邻的光传感器耦合的闪烁晶体相邻的面的光反射层中设置有透光窗口。该检测器具备DOI解码能力,DOI解码的过程中互不影响,解码准确。并且,在使用相同数量的光传感器阵列的情况下,闪烁晶体的解码能力明显提高,在使用相同数量的光传感器阵列的情况下,本发明的光传感器阵列大小和光传感器读出电路的通道数目可以降低3/4‑8/9。 | ||
搜索关键词: | 检测器 具有 发射 成像 设备 | ||
【主权项】:
1.一种用于发射成像设备的检测器,其特征在于,包括:闪烁晶体阵列,其包括多个闪烁晶体;光传感器阵列,其耦合至所述闪烁晶体阵列的端面,所述光传感器阵列包括多个光传感器,所述多个光传感器中的至少一个分别耦合有多个所述闪烁晶体,其中,所述多个闪烁晶体的未与所述光传感器阵列耦合的面均设置有光反射层,且所述面中与相邻的光传感器耦合的闪烁晶体相邻的面的光反射层中设置有透光窗口。
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