[发明专利]一种侧面加载介质平板的高增益相控天线阵列有效

专利信息
申请号: 201710401420.4 申请日: 2017-05-31
公开(公告)号: CN107275767B 公开(公告)日: 2019-06-11
发明(设计)人: 张安学;杨国鹏;李梦婷 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: H01Q1/38 分类号: H01Q1/38;H01Q21/06;H01Q15/14;H01Q19/10
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种侧面加载介质平板的高增益相控天线阵列,包括并列排布有多个天线单元的介质基板,天线单元两侧的介质基板上还平行设置有能够对电磁波进行反射与透射的第一介质平板和第二介质平板,且所述的第一介质平板和第二介质平板关于全部天线单元所组成阵列的阵轴对称设置。本发明具通过在天线单元两侧的介质基板上平行设置能够对电磁波进行反射与透射的第一介质平板和第二介质平板,当反射系数相位接近0时,等效成在垂直于天线阵列阵轴方向组成了一个等间距、不等幅、同相馈电的天线阵列,这样压缩了天线单元垂直于天线阵列阵轴方向的半功率角度,有效提高了天线增益。本发明能够减少天线单元的数量,加工成本低,具有较强的波束扫描能力。
搜索关键词: 一种 侧面 加载 介质 平板 增益 天线 阵列
【主权项】:
1.一种侧面加载介质平板的高增益相控天线阵列,其特征在于:包括并列排布有多个天线单元(1)的介质基板(2),介质基板(2)上垂直于介质基板(2)且平行于全部天线单元(1)组成的天线阵列的排列方向还设置有能够对电磁波进行反射与透射的第一介质平板(3)和第二介质平板(4),电磁波在两个介质平板之间被多次反射,且所述的第一介质平板(3)和第二介质平板(4)关于全部天线单元(1)所组成阵列的阵轴对称设置,阵轴为沿全部天线单元(1)组成的阵列的排列方向,经过天线单元(1)中心的轴线。
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