[发明专利]一种铜铝异质复合材料过渡层电导率的测定方法有效

专利信息
申请号: 201710384682.4 申请日: 2017-05-26
公开(公告)号: CN107238757B 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 魏艳妮;罗永光;曲洪涛;梁淑华;邹军涛;谭世友 申请(专利权)人: 西安理工大学;云南驰宏锌锗股份有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 常娥
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种铜铝异质复合材料过渡层电导率的测定方法,在预磨机上用砂纸对铜铝复合材料从铝侧打磨减薄,铜侧不打磨并保持光洁,作为厚度测量的基准面;对减薄后的试样擦净后,以铜底面作为基准面,在不同位置测量试样厚度并求平均值;对减薄后的试样擦净后用涡流电导仪从铝侧测量电导率并求平均值;重复多次,直至将试样的铝侧和过渡层打磨减薄掉并露出铜;以每次铝侧减薄厚度的平均值为横坐标,以对应测得的电导率平均值为纵坐标,获得电导率从铝侧穿过界面过渡层再到铜侧的变化曲线,根据不同界面过渡层厚度在变化曲线上查找相应的电导率。本发明能够获得铜铝异质复合界面处,从铝侧穿过过渡层再到铜侧的电导率变化曲线,准确得到界面过渡层的电导率。
搜索关键词: 一种 铜铝异质 复合材料 过渡 电导率 测定 方法
【主权项】:
1.一种铜铝异质复合材料过渡层电导率的测定方法,其特征在于,具体步骤如下:步骤1),对切取的铜铝异质复合材料试样在预磨机上清理后,并以铜底面作为基准面用千分尺检测铜铝异质复合材料的铜侧和铝侧表面的平行度,使其误差在0.005mm以内,测量试样的整体初始平均厚度为d0;步骤2),在预磨机上用800#砂纸对复合材料从铝侧打磨减薄,按照每次0.02‑0.05mm的厚度减薄铝侧,铜侧不打磨并保持光洁,作为厚度测量的基准面;步骤3),对用800#砂纸打磨减薄后的试样,用粘附酒精的棉纱擦净后,以铜底面作为基准面,用千分尺在不同位置测量3~5个试样厚度数据,使其误差在0.01mm以内,并求出平均值作为dn,计算Δdn=d0‑dn;步骤4),对用800#砂纸打磨减薄后的试样,用粘附酒精的棉纱擦净后,用校准后的涡流电导仪从铝侧测量试样,得到3~5个试样的电导率数据,并求平均值Sn;步骤5),依次重复步骤2)、3)、4),直至将试样的铝侧和过渡层打磨减薄掉并露出铜;步骤6),对记录的多组数据用Origin软件处理,以每次铝侧减薄厚度的平均值Δdn作为横坐标,以对应测得的电导率平均值Sn为纵坐标,获得电导率从铝侧穿过界面过渡层再到铜侧的变化曲线,最后根据不同界面过渡层厚度在变化曲线上查找相应的电导率。
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