[发明专利]一种功能模块的自动化回归测试方法、装置在审
| 申请号： | 201710239342.2 | 申请日： | 2017-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN108733550A | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 韩锐 | 申请（专利权）人： | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 张一军;姜劲 |
| 地址： | 100195 北京市海淀区杏石口路6*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种功能模块的自动化回归测试方法、装置、电子设备和存储介质，能够通过选取有限数量的测试用例，得到更准确和全面的测试结果，提高测试的有效性和目的性。该方法包括：选取待测功能模块；根据功能相关性表确定该模块是否存在相关功能模块，当该模块存在相关功能模块时，则根据功能相关性表选取并执行与该模块相关的测试例，以及与相关功能模块相关的测试例，对该模块和相关功能模块进行自动化回归测试；当该模块不存在相关的功能模块时，则根据功能相关性表选取并执行该模块相关的测试例，对该模块进行自动化回归测试。 | ||
| 搜索关键词： | 回归测试 测试 自动化 表选取 待测功能模块 存储介质 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种功能模块的自动化回归测试方法，其特征在于，所述方法基于功能相关性表，所述功能相关性表包括功能模块之间的相关性和功能模块与测试例之间的相关性，所述方法包括：选取待测功能模块；根据所述功能相关性表确定所述待测功能模块是否存在相关功能模块，其中，当所述待测功能模块存在相关功能模块时，则根据所述功能相关性表选取并执行与所述待测功能模块相关的测试例，以及与所述相关功能模块相关的测试例，对所述待测功能模块和所述相关功能模块进行自动化回归测试；当所述待测功能模块不存在相关的功能模块时，则根据所述功能相关性表选取并执行所述待测功能模块相关的测试例，对所述待测功能模块进行自动化回归测试。
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