[发明专利]无线通讯信号高性能测试模块及其测试方法有效
申请号: | 201710236444.9 | 申请日: | 2017-04-12 |
公开(公告)号: | CN106982098B | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 熊志坚;刘新宇;刘亚洲 | 申请(专利权)人: | 苏州中科集成电路设计中心有限公司 |
主分类号: | H04B17/15 | 分类号: | H04B17/15;H04B17/29;H04B1/00;H04B1/04 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 陈忠辉 |
地址: | 215021 江苏省苏州市工业园*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明揭示了一种无线通讯信号高性能测试模块及其测试方法包括对测试模块配置参考时钟,提供初始化单元和芯片AD9361精准的同步时间;所述初始化单元配置芯片AD9361使其工作在收发状态,并设定auxadc_control方式、port_control的端口形式、ctrl_outs_control的控制方式、gain_control的增益方式、rssi_control的测试方式、elna_control的外部增益的方式、tx_monitor_control输入功率控制方式以及附属auxadc_contgrol的控制方式,并且芯片AD9361处理各天线接收口的信号转化为零中频的数据流,并输出至现场可编程门阵列数字处理。应用本发明的测试系统方案,其支持12位模数和数模转化的射频收发,发送频带自47MHz至6GHz,接收频带自70MHz至6GHz,提高了测试灵敏度、噪声响应和综合精度。并且具有多芯片同步,支持CMOS/LVDS数字接口的能力。 | ||
搜索关键词: | 无线通讯 信号 性能 测试 模块 及其 方法 | ||
【主权项】:
无线通讯信号高性能测试模块,面向待测芯片和现场可编程门阵列参与构成全频段射频测试平台,其特征在于:所述测试模块具有芯片AD9361及其一体集成的LNA、有源混频器、放大器、DAC和ADC,其中所述芯片AD9361通过LNA接设有两路独立的天线接收口,并通过放大器接设有两路独立的天线发射口,且所述芯片AD9361与可编程门阵列互联双向信号互联。
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