[发明专利]一种用于液晶面板检测的工作平台、液晶面板检测装置在审
申请号: | 201710166476.6 | 申请日: | 2017-03-20 |
公开(公告)号: | CN106773188A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 张霁;边征;徐东升;张勇勇;王羽佳;郭冲 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京风雅颂专利代理有限公司11403 | 代理人: | 李弘,杨红梅 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于液晶面板检测的检测平台,包括平台主体,所述平台主体上表面设置有安装槽以形成透光区域;所述平台主体还设置有插槽,所述插槽的开口位于所述平台主体的侧面上,所述插槽用于安装下偏光片并使下偏光片完全覆盖所述透光区域;本发明通过在检测平台上加设用于安装下偏光片的插槽,使得在检测时,下偏光片不再从平台主体的上表面置入,而是从平台主体的侧面插入;在插槽内安装好下偏光片后,下偏光片能够完全覆盖透光区域,这样背光源发出的光全部能够通过下偏光片,解决了现有的检测平台在进行检测时会发生边缘漏光的问题,提升了液晶面板检测的检测准确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 液晶面板 检测 工作 平台 装置 | ||
【主权项】:
一种用于液晶面板检测的检测平台,包括:平台主体,所述平台主体上表面设置有安装槽以形成透光区域;其特征在于,所述平台主体还设置有插槽,所述插槽的开口位于所述平台主体的侧面上,所述插槽用于安装下偏光片并使下偏光片覆盖所述透光区域。
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