[发明专利]一种通用型微细探针测试治具在审
| 申请号： | 201710152886.5 | 申请日： | 2017-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN106855580A | 公开（公告）日： | 2017-06-16 |
| 发明（设计）人： | 吴兆正 | 申请（专利权）人： | 昆山鸿裕电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215313 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种通用型微细探针测试治具属于电性测试技术领域，主要涉及一种电性测试治具；本发明为了解决现有技术中的电性测试治具由于传统结构的限制，不具有通用性，适用性差，测量精度差的问题；本发明包括若干测试细针和由上至下依次布置的针盘面、至少一块移动板和底座，针盘面、移动板和底座上均设有针孔，针盘面与移动板之间设有导向板，导向板上设有导向孔，测试细针的一端依次穿过移动板和底座的针孔，测试细针的另一端通过导向孔连接针盘面；本发明通用性强，适用性更为广泛。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通用型 微细 探针 测试 | ||
【主权项】：
一种通用型微细探针测试治具，包括若干测试细针和由上至下依次布置的针盘面、至少一块移动板和底座，所述针盘面、移动板和底座上均设有针孔，其特征在于：所述针盘面与移动板之间设有导向板，导向板上设有导向孔，测试细针的一端依次穿过移动板和底座的针孔，测试细针的另一端通过导向孔连接针盘面。
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