[发明专利]全自动微粒子化学发光分析仪专用辅助分析方法在审
申请号: | 201710090429.8 | 申请日: | 2017-02-20 |
公开(公告)号: | CN106844760A | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 朱旭艳;侯剑平;王超;黄东森;马云;朱俊涛;李东;李力;吕恒;刘聪;王聪 | 申请(专利权)人: | 安图实验仪器(郑州)有限公司 |
主分类号: | G06F17/30 | 分类号: | G06F17/30;G01N35/00 |
代理公司: | 郑州异开专利事务所(普通合伙)41114 | 代理人: | 韩华 |
地址: | 450016 河南省*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明公开了一种全自动微粒子化学发光分析仪专用辅助分析方法,将全自动微粒子化学发光分析仪的控制计算机与移动终端设备通信连接,然后将控制计算机的数据库和日志文件拷贝到所述移动终端设备的根目录文件中,进行漏加样本或漏加试剂分析、测试数统计、质控数据统计。本发明优点在于实现就地对全自动微粒子化学发光分析仪数据库损坏的修复、判断分析是否出现漏加样本或漏加试剂现象、以及测试数和质控数据的统计。节省了大量人力和时间,降低了全自动微粒子化学发光分析仪的使用成本。 | ||
搜索关键词: | 全自动 微粒子 化学发光分析 专用 辅助 分析 方法 | ||
【主权项】:
一种全自动微粒子化学发光分析仪专用辅助分析方法,其特征在于:将所述全自动微粒子化学发光分析仪的控制计算机与移动终端设备通信连接,然后将所述控制计算机的数据库和日志文件拷贝到所述移动终端设备的根目录文件中,进行漏加样本或漏加试剂分析、测试数统计、质控数据统计;所述漏加样本分析为:通过所述日志文件获取各个测试过程中样本针抽取样本时移动的脉冲值,对各个测试的所述脉冲值进行比较,即:当相邻两次抽取样本时样本针移动的脉冲值的差值超过设定误差值,则认为测试疑似有误,对于疑似有误的测试记录按试剂槽号分组列表,判断测试是否存在漏加样本现象;所述漏加试剂分析为:通过所述日志文件获取各个测试过程中试剂针抽取试剂时移动的脉冲值,对各个测试的所述脉冲值进行比较,即:当相邻两次抽取试剂时试剂针移动的脉冲值的差值超过设定误差值,则认为测试疑似有误,对于疑似有误的测试记录按试剂槽号分组列表,判断测试是否存在漏加试剂现象;所述测试数统计为:通过所述数据库统计全部测试数据,或分段统计指定项目的测试数据,并将统计信息保存到Excel文件中;所述质控数据统计为:a、统计普通质控品:从所述数据库和日志文件中将每一条质控测试结果及其对应的定标测试结果存入“质控数据.xlsx”文件内,按照质控品基本信息分块;b、统计患者质控品:患者质控品是把质控测试当作患者测试来做,和普通质控品一样,患者质控品需要从所述数据库和日志文件中导出每条质控测试结果及其对应的定标测试结果到“质控数据.xlsx”文件内,患者质控品不包含质控品基本信息,它按照质控品名称分块;c、通过分析质控检测结果验证定标曲线是否有效。
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