[发明专利]一种双峰聚乙烯分子断裂模拟方法与装置有效
| 申请号： | 201710081680.8 | 申请日： | 2017-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN107256277B | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 黄健;朱杨;马保国;余永升;汪金水 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G16C20/70;G16C60/00 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 崔友明;李丹 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双峰聚乙烯分子断裂模拟方法，该方法包括以下步骤：1）采集待模拟的双峰聚乙烯分子分子量密度分布数据；2）绘制双峰聚乙烯分子的分子量分布曲线图；3）对双峰聚乙烯分子分子量密度分布数据拟合，得到分子量密度曲线的函数表达式；4）在聚乙烯分子分子量分布模型中设定采样参数，生成给定分布的双峰聚乙烯分子样本；5）设定断裂概率参数，对双峰聚乙烯分子过程进行分子断裂模拟。本发明提供了一种双峰聚乙烯分子断裂模拟方法，为通过利用矩阵模型模拟特定分子量分布的聚乙烯高分子断裂过程，对聚乙烯高分子老化的研究给予技术支撑。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 双峰 聚乙烯 分子 断裂 模拟 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种双峰聚乙烯分子断裂模拟方法，其特征在于，包括以下步骤：1）采集待模拟的双峰聚乙烯分子分子量密度分布数据；2）对采集的数据按横坐标数据为双峰聚乙烯分子分子量以10为底的对数，纵坐标数据为双峰聚乙烯分子的分子量密度，绘制双峰聚乙烯分子的分子量分布曲线图；3）对双峰聚乙烯分子分子量密度分布数据拟合，得到分子量密度曲线的函数表达式，生成相应的聚乙烯分子分子量分布模型；4）在聚乙烯分子分子量分布模型中设定采样参数，生成给定分布的双峰聚乙烯分子样本；其中采样参数包括采样间隔、采样个数、断裂后分子总数和短支链浓度；5）设定断裂概率参数，对双峰聚乙烯分子过程进行分子断裂模拟；其中断裂概率参数包括主碳链与仲碳、叔碳、羰基相连的碳‑碳单键断裂概率、模拟时间单位数和分子断裂百分比。
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