[发明专利]一种全内反射检测工作平台的使用方法

摘要

本发明提供了一种全内反射检测工作平台的使用方法，使用的检测平台由接收装置、载物台和全内反射棱镜组成，分为倒置式和正置式两种。接收装置在朝载物台方向的顶端，安装有透镜和滤光片，接收聚焦和筛选的全内反射荧光信号。载物台下表面加工有四个棱镜紧固装置和棱镜卡具紧固器，能够固定全内反射用的高折射率棱镜。使用方法包括第一步选择全内反射棱镜；第二步安装；第三步贴合；第四步测定。本发明有益效果是本发明采用使用不同规格的全内反射棱镜，来完成检测任务，能够快速地调整全内反射入射角，对检测芯片的适应性强。

主权项

一种全内反射检测工作平台的使用方法，使用的检测工作平台由接收装置（1）、载物台（9）和全内反射棱镜（11）组成，分为倒置式和正置式两种；倒置式为：接收装置（1）安装在载物台（9）下方的位置处，载物台（9）下方的表面安装有独立、可拆卸的全内反射棱镜（11）；在载物台（9）上方的位置处安装有显微镜镜头装置（7）；或正置式为：接收装置（1）安装在载物台（9）上方的位置处，载物台（9）上方的表面安装有独立、可拆卸的全内反射棱镜（11），在载物台（9）下方的位置处还安装有显微镜镜头装置（7）；所述接收装置（1）在朝载物台方向的顶端，安装有透镜和滤光片（2）；所述载物台（9）正中间部位是上下贯通的长方形的检测窗（16），在检测窗（16）内边四周加工有上下活动的凸出的2mm~10mm宽0.35mm厚的芯片槽（12）；放在芯片槽（12）中的检测芯片（6）通过长方形的检测窗（16）长边两端头安装的芯片下卡具（3）和芯片上卡具（5），能够将芯片液体检测区（8）待检的一面朝上或朝下放置，且能平齐或凸出载物台（9）的表面；所述载物台（9）下表面或上表面，在长方形的检测窗（16）的长边两侧，加工有四个棱镜紧固装置（13）；四个棱镜紧固装置（13）通过拉伸紧固连杆（15）与载物台（9）另一侧表面对应加工安装的四个棱镜卡具紧固器（14）相连，夹紧固定载物台（9）表面的全内反射棱镜（11）；所述载物台（9）的两侧加工安装有左右传动装置（4）和前后传动装置（10）；所述芯片下卡具（3）和芯片上卡具（5）是由透明的材料加工的；芯片下卡具（3）和芯片上卡具（5）内部加工有电传操控的上下调整滑轨槽（17），检测芯片（6）的芯片封装片（18）能够插入上下调整滑轨槽（17）中，上下调整高度；或者，芯片槽（12）插入上下调整滑轨槽（17）中，上下调整高度；其特征在于，使用的方法为：第一步，选择全内反射棱镜（11）；根据需要检测的荧光波长，确定激发波长所对应的全内反射棱镜（11）；第二步，安装；先将检测芯片（6）的芯片液体检测区（8）待检面朝向载物台（9）安装全内反射棱镜（11）的一面，放置检测芯片（6）于检测窗（16）中，将芯片封装片（18）的两头插入芯片卡具的上下调整滑轨槽（17）中；或放置检测芯片（6）于检测窗（16）中的芯片槽（12）中，将芯片槽（12）的两头插入芯片卡具的上下调整滑轨槽（17）中；将选择的全内反射棱镜（11）通过四个棱镜紧固装置（13），安装在载物台（9）上；第三步，贴合；先通过棱镜卡具紧固器（14）夹紧固定载物台（9）表面的全内反射棱镜（11）；再通过芯片下卡具（3）和芯片上卡具（5）内部电传操控的上下调整滑轨槽（17），上下调整检测芯片（6）的高度，使全内反射棱镜（11）的表平面与检测芯片（6）的芯片液体检测区（8）待检面紧贴在一起；第四步，测定；调整激发光角度至激发光垂直进入全内反射棱镜（11）侧面，并产生全反射，通过接收装置（1）获取检测信号；全反射检测测定完后，升降载物台（9），用显微镜镜头装置（7）检测检测芯片（6）的芯片液体检测区（8）；或者，全反射检测测定完后，先将全内反射棱镜（11）拆除，将检测芯片（6）翻面，使芯片液体检测区（8）一面朝向显微镜镜头装置，重新安装检测芯片（6）；满足显微镜镜头装置（7）的聚焦，进行常规荧光或相差影像信号的检测。