[发明专利]检测天线阵列和/或与其耦合的设备的缺陷的系统和方法有效
| 申请号： | 201710061524.5 | 申请日： | 2017-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN107831372B | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | G·S·李;C·L·科尔曼;G·D·范韦格伦 | 申请（专利权）人： | 是德科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文公开的各种说明性实施例一般涉及通过使用由发射天线阵列向位于发射天线阵列的远场区域中的接收天线发射的射频调试信号来检测缺陷。被配置为提供与发射天线阵列的信号辐射分布有关的信息的射频调试信号在接收天线中被接收并被传送到测试单元。测试单元将接收的射频调试信号数字化以获得数字数据集，并将反向传播算法应用于数字数据集以导出发射阵列的重构近场表示。将重构的近场表示与信号辐射参考模板进行比较，以便检测指示发射天线阵列和/或耦合到发射天线阵列的被测设备的缺陷的缺陷幅度和/或缺陷相位。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 天线 阵列 与其 耦合 设备 缺陷 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：在接收天线中接收由发射天线阵列发射的射频调试信号，所述接收天线位于所述发射天线阵列的远场区域中，所述发射天线阵列配置为经由所述射频调试信号来传播指示所述发射天线阵列的信号辐射分布的信息；和对在所述接收天线中接收到的所述射频调试信号执行缺陷检测过程，所述缺陷检测过程包括：通过将接收天线中接收的射频调试信号数字化来获得数字数据集；将反向传播算法应用于所述数字数据集以导出所述发射天线阵列的重构的近场表示，所述重构的近场表示指示所述发射天线阵列的信号辐射分布；和使用所述发射天线阵列的重构的近场表示来识别以下中的至少一个：a)所述发射天线阵列或耦合到所述发射天线阵列的被测设备中的至少一个的一个或多个缺陷，或b)所述发射天线阵列或耦合到所述发射天线阵列的被测设备中的至少一个的零缺陷。
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