[发明专利]一种基于皮肤角质层自发荧光无创预测紫外光诱导的皮肤损伤的方法在审
| 申请号： | 201710061517.5 | 申请日： | 2017-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN106725346A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 殷卫海;张铭超 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 上海顺华专利代理有限责任公司31203 | 代理人： | 陆林辉 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种依据于检测皮肤角质层自发荧光的活体无创预测紫外线诱导皮肤损伤的方法，是以介于440‑560nm波段的激发光激发出表皮角质层介于450‑580nm波长的自发荧光，该角质层自发荧光的强度与未来的紫外线损伤程度成正相关关系。因此通过检测分析该介于450‑580nm波长的自发荧光的变化，可以对紫外光造成的皮肤损伤进行预测。该介于450‑580nm波长的自发荧光可以成为一个全新的预测紫外皮肤损伤程度的新标志物。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 皮肤 角质层 自发 荧光 预测 紫外 光诱导 损伤 方法 | ||
【主权项】：
一种基于皮肤角质层自发荧光的活体无创预测紫外线诱导皮肤损伤的方法，是通过检测角质层自发荧光预测紫外线诱导的皮肤损伤，是以蓝紫光波段的激发光，波长为440‑560nm，激发出皮肤表皮角质层波长为450‑580nm的自发荧光，该角质层自发荧光强度与未来的紫外线损伤程度成正相关关系；通过检测分析该介于450‑580nm波长的自发荧光的变化，对紫外光造成的皮肤损伤进行预测。
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