[发明专利]RFID标签性能测试暗箱

摘要

本发明公开了一种RFID标签性能测试暗箱，包括箱体，箱体包括上箱体和下箱体，上箱体和下箱体的结合部设有第一托盘，在第一托盘上设置有固定式条码扫描器、摄像头和上位机，第一托盘的中心位置设有一个孔，在下箱体的背面设有RFID读写器，在下箱体底端设有RFID读写天线，固定式条码扫描器通过孔扫描RFID标签上的条码，摄像头通过孔拍摄RFID标签的摆放位置，RFID读写器通过RFID读写天线读取RFID标签的信息；箱体的高度小于等于52cm，宽度小于等于32cm，深度小于等于28cm。本发明体积较小、成本较低、测试人员能随身携带、能随时查看标签测试时的位置、能追踪回查某个标签当时的测试状况。

主权项

一种RFID标签性能测试暗箱，其特征在于，包括箱体，所述箱体包括上箱体和下箱体，在所述上箱体和下箱体的结合部设有第一托盘，在所述第一托盘上设置有固定式条码扫描器、摄像头和上位机，在所述第一托盘的中心位置设有一个孔，所述下箱体中设有用于放置RFID标签的第二托盘，所述RFID标签上设有条码，在所述下箱体的背面设有RFID读写器，所述固定式条码扫描器、摄像头和RFID读写器通过一个集线器与所述上位机连接，在所述下箱体内部的底端设有一个RFID读写天线，所述固定式条码扫描器通过所述孔扫描所述条码并将扫描信息通过所述集线器发送到所述上位机，所述摄像头通过所述孔拍摄所述RFID标签的摆放位置，并将拍摄的图片通过所述集线器发送到所述上位机，所述RFID读写器通过所述RFID读写天线读取所述RFID标签的信息，并将读取的标签信息通过所述集线器发送到所述上位机，所述上位机收到所述扫描信息、拍摄的图片和标签信息后，进行分析后生成测试报告；所述箱体的高度小于或等于52cm，所述箱体的宽度小于或等于32cm，所述箱体的深度小于或等于28cm。