[发明专利]一种用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置

摘要

本发明提供了一种用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置。所述三维定标测量装置首先利用三维扫描仪配合样品台多自由度运动，将放置于样品台上的样品的扫描图像采集到计算机中，建立样品的三维模型。然后对三维模型进行分网处理，并对每个网格赋予唯一标识。通过手动或自动模式在三维模型上任选一个目标网格，借助安装在计算机中的运动控制程序控制样品台运动，使得入射狭缝对准该目标网格，同时，衍射狭缝、准直器和中子探测器移动到相应位置，中子源发射中子束，开始中子衍射应力测量。该三维定标测量装置可以实现对样品的精确三维定标，对空间要求低，不需要额外安装基准点光源，避免引入额外的误差，测试样品的定位精度可达100μm。

主权项

一种用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置，其特征在于，所述的三维定标测量装置包括三维扫描仪（1）、样品台（2）、计算机（3）、入射狭缝（4）、衍射狭缝（6）、准直器（7）和中子探测器（8）；样品（5）放置在所述的样品台（2）上，中子源发射的中子射线经入射狭缝（4）入射至样品（5），衍射后的中子射线沿衍射狭缝（6）入射至准直器（7）后由中子探测器（8）接收，入射狭缝（4）和衍射狭缝（6）呈布拉格角排列；所述的三维扫描仪（1）扫描样品（5），并将扫描图像传输至计算机（3）；所述的计算机（3）控制样品台（2）移动，改变三维扫描仪（1）扫描的样品（5）的测量点位置，通过计算机（3）中的中子衍射应力分析模块实现样品（5）的中子衍射应力分析的三维定标测量。