[发明专利]电离辐射图像数据校正有效
申请号: | 201680015201.6 | 申请日: | 2016-01-26 |
公开(公告)号: | CN107454942B | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 米科·马蒂卡拉 | 申请(专利权)人: | 芬兰探测技术股份有限公司 |
主分类号: | G01V5/00 | 分类号: | G01V5/00 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 徐川;姚开丽 |
地址: | 芬兰*** | 国省代码: | 芬兰;FI |
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摘要: | 在一个示例中,图像数据校正装置被配置成电离辐射探测装置,其中电离辐射探测装置被配置成对透射过物体的多个能量范围内的电离辐射进行探测,该辐射来自辐射源对物体的放射,辐射探测装置包括:第一探测器,用于对透射过物体的第一能量范围内的电离辐射进行探测以产生第一辐射图像数据;第二探测器,被布置成平行于第一探测器,第一探测器和第二探测器之间夹有预定区域,该第二探测器用于对透射过物体的第二能量范围内的电离辐射进行探测以产生第二辐射图像数据。第一探测器和第二探测器被配置成同时接收电离辐射,以使得同时产生第一图像数据和第二图像数据。图像数据校正装置包括;至少一个处理器,和存储有程序指令的至少一个存储器,当通过至少一个处理器执行时,所述程序指令使得装置:基于预定区域的宽度计数地确定第二辐射图像数据的校正值。在其他示例中,结合图像数据校正装置的特征对方法和计算机程序产品进行了讨论。 | ||
搜索关键词: | 电离辐射 图像 数据 校正 | ||
【主权项】:
1.一种对电离辐射图像进行数据校正的装置,包括图像数据校正装置和电离辐射探测装置,其中,所述电离辐射探测装置被配置成对透射过物体的多个能量范围内的电离辐射进行探测,辐射从辐射源放射到所述物体,所述电离辐射探测装置包括:第一探测器,用于对透射过所述物体的第一能量范围内的电离辐射进行探测以产生第一辐射图像数据;至少一个第二探测器,被布置成平行于所述第一探测器并与所述第一探测器并排排列,所述第一探测器和所述第二探测器之间夹有间隙,所述第二探测器用于对透射过所述物体的第二能量范围内的电离辐射进行探测以产生第二辐射图像数据,其中,所述第一能量范围和所述第二能量范围是不同的;所述第一探测器和所述第二探测器被配置成同时接收电离辐射,以使得所述第一辐射图像数据和所述第二辐射图像数据被同时产生和采样;其特征在于,所述图像数据校正装置包括:至少一个处理器(1102),以及存储有程序指令(1106、1108)的至少一个存储器(1104),当由所述至少一个处理器执行时,所述程序指令使得所述图像数据校正装置:基于所述间隙的宽度和像素间距数字地确定所述第二辐射图像数据的校正值以使得空间采样等于所述像素间距,其中,所述间隙的宽度小于所述像素间距并且所述校正值被配置成针对几何特性对图像进行校正。
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