[发明专利]用于检测和缓解闪速存储器中的位线开路的装置和方法有效
申请号: | 201680012369.1 | 申请日: | 2016-02-10 |
公开(公告)号: | CN107408069B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | R·H·莫特瓦尼;P·卡拉瓦德 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;G11C16/08;G11C16/26;G11C29/52;H03M13/11;H03M13/15 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘瑜;王英 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 描述了一种方法,其包括从非易失性存储器的部分中执行第一读取,该第一读取提供第一码字;对所述第一码字进行解码;确定解码操作是否失败;当确定所述解码操作失败时从所述非易失性存储器的所述部分中执行第二读取,第二读取提供第二码字;并且使用错误‑和‑擦除解码过程对所述第二码字进行解码。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 缓解 存储器 中的 开路 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:从非易失性存储器的部分中执行第一读取,所述第一读取提供第一码字;对所述第一码字进行解码;确定解码操作是否失败;当确定所述解码操作失败时从所述非易失性存储器的所述部分中执行第二读取,所述第二读取提供第二码字;以及使用错误‑和‑擦除解码过程对所述第二码字进行解码。
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