[实用新型]光束取样系统

摘要

本实用新型提供了一种光束取样系统，包括光学准直组件、光学分束组件、杂光接收组件、功率测量装置、光谱测量装置、滤光组件、衰减片组和光束参数测量仪，光学准直组件用于准直射入光束取样系统的激光光束形成准直光，光学分束组件用于接收准直光并将其分离成参数测量光、功率测量光、光谱测量光和杂光，杂光接收组件用于接收杂光，功率测量装置用于接收功率测量光，光谱测量装置用于接收光谱测量光，滤光组件用于接收参数测量光形成过滤光，衰减片组用于接收过滤光形成衰减光，光束参数测量仪用于接收衰减光。光学分束组件和衰减片组对光束能量进行衰减，从而能够实现对瓦级到十万瓦级的激光光束同时进行功率、光谱和光束参数的测量。

主权项

一种光束取样系统，其特征在于，包括光学准直组件、光学分束组件、杂光接收组件、功率测量装置、光谱测量装置、滤光组件、衰减片组和光束参数测量仪，所述光学准直组件用于准直射入所述光束取样系统的激光光束形成准直光，所述光学分束组件用于接收所述准直光并将所述准直光分离成参数测量光、功率测量光、光谱测量光和杂光，所述杂光接收组件用于接收所述杂光，所述功率测量装置用于接收所述功率测量光，所述光谱测量装置用于接收所述光谱测量光，所述滤光组件用于接收所述参数测量光形成过滤光，所述衰减片组用于接收所述过滤光形成衰减光，所述光束参数测量仪用于接收所述衰减光。