[实用新型]基于磁光科尔/法拉第效应的超快光学门控成像系统有效
申请号: | 201620778965.8 | 申请日: | 2016-07-25 |
公开(公告)号: | CN205898680U | 公开(公告)日: | 2017-01-18 |
发明(设计)人: | 陈院森;刘晓波 | 申请(专利权)人: | 山西大学 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47 |
代理公司: | 太原科卫专利事务所(普通合伙)14100 | 代理人: | 朱源,武建云 |
地址: | 030006*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 本实用新型公开一种基于磁光科尔/法拉第效应的超快门控成像系统,主要包括激光器,所述激光器产生的飞秒脉冲经分束器BS1分为反射部分Probe光和透射部分Pump光;所述Probe光经过散射介质以后被展宽,展宽的Probe光经过起偏器P3、透镜L1聚焦到位于焦平面处的磁性薄膜,Probe光经磁性薄膜反射再次经过透镜L1准直进入检偏器P4,Probe出射光经由透镜L2汇聚到CCD探测器上进行成像。基于泵浦‑探测超快光学技术,采用泵浦光的偏振态来控制磁性薄膜的磁化方向,利用磁光旋转效应,实现对探测光线性偏振态旋转的控制。选择性的对弹道光进行超快测量,可以有效实现混浊介质中的物体成像。 | ||
搜索关键词: | 基于 磁光科尔 法拉第 效应 光学 门控 成像 系统 | ||
【主权项】:
一种基于磁光科尔效应的超快光学门控成像系统,其特征在于:包括激光器,所述激光器产生的飞秒脉冲经分束器BS1分为反射部分Probe光和透射部分Pump光;所述Probe光经过散射介质以后被展宽,展宽的Probe光经过起偏器P3、透镜L1聚焦到位于焦平面处的磁性薄膜,Probe光经磁性薄膜反射再次经过透镜L1准直进入检偏器P4,Probe出射光经由透镜L2汇聚到CCD探测器上进行成像;所述Pump光由分束器BS2分别两束相同脉冲,分别记为Pump1和Pump2;所述Pump1依次经过偏振器P1和零级1/4波片Q1后,由透镜L1聚焦到磁性薄膜上,并与Probe光在空间上重合;所述Pump2依次经过偏振器P/2和零级1/4波片Q2后,由透镜L1聚焦到磁性薄膜上,并与Probe光在空间上重合。
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