[实用新型]EMI测试天线装置有效
| 申请号： | 201620284295.4 | 申请日： | 2016-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN205506973U | 公开（公告）日： | 2016-08-24 |
| 发明（设计）人： | 梁吉明 | 申请（专利权）人： | 厦门海诺达科学仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 361000 福建省厦门*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种EMI测试天线装置，其包括上锥体天线、下锥体天线以及支撑架，所述上锥体天线为倒锥体，所述下锥体天线为正锥体，且所述上锥体天线与下锥体天线顶对顶设置在所述支撑架的上部，所述上锥体天线设置在上导电板，所述下锥体天线设置在下导电板，且所述上导电板与所述下导电板之间电性连接，其中，所述上锥体天线和所述下锥体天线的表面设置有磁性吸波层；从而通过结构设计与材料设计相结合，极大的增强了天线装置的吸波效果。 | ||
| 搜索关键词： | emi 测试 天线 装置 | ||
【主权项】：
一种EMI测试天线装置，其特征在于，包括上锥体天线(10)、下锥体天线(40)以及支撑架，所述上锥体天线(10)为倒锥体，所述下锥体天线(40)为正锥体，且所述上锥体天线(10)与下锥体天线(40)顶对顶设置在所述支撑架的上部，所述上锥体天线(10)设置在上导电板(20)，所述下锥体天线(40)设置在下导电板(30)，且所述上导电板(20)与所述下导电板(30)之间电性连接，其中，所述上锥体天线(10)和所述下锥体天线(40)的表面设置有磁性吸波层。
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