[实用新型]用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样有效

专利信息
申请号: 201620087721.5 申请日: 2016-01-28
公开(公告)号: CN205317893U 公开(公告)日: 2016-06-15
发明(设计)人: 姚远航;聂洪岩;顾哲屹 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 代理人: 李晓敏
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样,涉及一种片状材料试样。第一正方形片状聚酯薄膜、第二正方形片状聚酯薄膜和第三正方形片状聚酯薄膜由上至下依次紧密贴合,第二正方形片状聚酯薄膜的中心位置开有正方形开口,且第二正方形片状聚酯薄膜的一侧边的中心位置开有流出口,流出口与正方形开口连通,正方形开口内设有环氧树脂填充结构体。本实用新型材料试样有效模拟干式空心电抗器匝间聚酯薄膜与环氧树脂复合绝缘材料的结构及聚酯薄膜与环氧树脂的界面分布,该试样不仅可以方便地进行热老化、电老化、受潮、机械振动等各种老化试验,还可以很好地对其进行空间电荷和红外光谱测量。
搜索关键词: 用于 研究 空心 电抗 器匝间 绝缘 老化 过程 片状 试样
【主权项】:
用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样,其特征在于:它包括第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)、第三正方形片状聚酯薄膜(3)和环氧树脂填充结构体(4);所述第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)由上至下依次紧密贴合,所述第二正方形片状聚酯薄膜(2)的中心位置开有正方形开口(5),且第二正方形片状聚酯薄膜(2)的一侧边的中心位置开有流出口(6),流出口(6)与正方形开口(5)连通,正方形开口(5)内设有环氧树脂填充结构体(4)。
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