[发明专利]用于对辐射图像进行质量评价的方法和系统有效
| 申请号： | 201611270685.7 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN108269277B | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 赵自然;顾建平;王志明;温宏胜;朱强强 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/45 | 分类号： | G06T7/45;G06T7/44 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张琛 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于对辐射图像进行质量评价的方法，包括：选择多个基准辐射图像，并且针对所述多个基准辐射图像中的每一个基准辐射图像的特定区域进行以下处理：计算归一化的灰度共生矩阵；以及根据所述归一化的灰度共生矩阵，计算特征参数；根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数；计算待评价辐射图像的特定区域的归一化的灰度共生矩阵；根据所述待评价辐射图像的归一化的灰度共生矩阵计算所述待评价辐射图像的特征参数；以及根据所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数以及所述待评价辐射图像的特征参数计算偏差，所述偏差用于表征所述待评价辐射图像的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 辐射 图像 进行 质量 评价 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于对辐射图像进行质量评价的方法，包括：选择多个基准辐射图像，并且针对所述多个基准辐射图像中的每一个基准辐射图像的特定区域进行以下处理：计算归一化的灰度共生矩阵；以及根据所述归一化的灰度共生矩阵，计算特征参数；根据所述多个基准辐射图像的特征参数，计算所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数；计算待评价辐射图像的特定区域的归一化的灰度共生矩阵；根据所述待评价辐射图像的归一化的灰度共生矩阵计算所述待评价辐射图像的特征参数；以及根据所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数以及所述待评价辐射图像的特征参数计算偏差，所述偏差用于表征所述待评价辐射图像的质量。
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