[发明专利]纳米级自动光学检测系统有效
| 申请号： | 201611240704.1 | 申请日： | 2016-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108254385B | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 邓勇;张伟亮;肖荣辉 | 申请（专利权）人： | 东莞东聚电子电讯制品有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89 |
| 代理公司： | 广州市南锋专利事务所有限公司 44228 | 代理人： | 罗晓聪 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种纳米级自动光学检测系统，其包括：第一、二光学检测机构，第一、二光学检测镜头采用工业级相机，并且第二光学检测镜头的像素大于第一光学检测镜头；于第一、二光学检测机构旁侧设置有移送机构，移送机构旁设置有用于收料夹，且第一、二光学检测机构、移送机构、收料夹安装在机台上方；通过移送机构的机械手将被检测产品在第一、二光学检测机构、收料夹之间移动。本发明采用了二级自动光学检测机构，通过第一光学检测机构首先进行初步的检测，筛检出初步合格的产品后，再通过第二光学检测机构进行进一步的检测。同时，通过移送机构的机械手将被检测产品在第一光学检测机构、第二光学检测机构和收料夹之间移动，以实现自动化作业。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 自动 光学 检测 系统 | ||
【主权项】：
1.纳米级自动光学检测系统，包括：第一光学检测机构(1)，该第一光学检测机构(1)包括：第一光学检测镜头(11)和位于第一光学检测镜头(11)下方的入料轨道(12)，于所述的入料轨道(12)上设置有可沿该入料轨道(12)移动的入料载具(13)；第二光学检测机构(2)，该第二光学检测机构(2)包括：第二光学检测镜头(21)和位于第二光学检测镜头(21)下方的检测轨道(22)，于所述的检测轨道(22)上设置有可沿检测轨道(22)移动的检测载具(23)；其特征在于：所述的第一、二光学检测镜头(11、21)采用工业级相机，并且第二光学检测镜头(22)的像素大于第一光学检测镜头(11)；于所述的第一、二光学检测机构(1、2)旁侧设置有移送机构(3)，所述的移送机构(3)旁设置有用于收料夹(4)，且第一、二光学检测机构(1、2)、移送机构(3)、收料夹(4)安装在机台(6)上方；所述的移送机构(3)包括一机械手(31)和移送轨道(32)，所述的机械手(31)可滑动安装在移送轨道(32)上，通过移送机构(3)的机械手(31)将被检测产品在第一光学检测机构(1)、第二光学检测机构(2)和收料夹(4)之间移动。
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