[发明专利]一种数模混合集成电路的测试模块

摘要

一种数模混合集成电路的测试模块，属于半导体数模混合集成电路可测性设计领域。在不影响电路基本功能的前提下，在管脚数目有限的情况下，通过增加模式控制单元、输入管脚复用单元、输出管脚复用单元、DAC数据旁路单元，解决现有数模混合集成电路测试设计难度大，测试不够全面的问题，本发明能够以较低的设计复杂度和设计时间代价，提高数模混合集成电路的测试设计的灵活性，实现快递定位故障，保证芯片测试的有效性和完备性。

主权项

1.一种数模混合集成电路的测试模块，其特征在于包括：模式控制单元、输入管脚复用单元、输出管脚复用单元以及DAC数据旁路单元；模式控制单元：根据外部输入的模式控制信号chip_mode1，chip_mode0，产生ADC测试模式信号adc_mode、扫描测试模式信号scan_mode、功能模式信号func_mode以及DAC测试模式信号dac_mode，并将扫描测试模式信号scan_mode、功能模式信号func_mode以及DAC测试模式信号dac_mode输出给输入管脚复用单元，将ADC测试模式信号adc_mode、扫描测试模式信号scan_mode以及功能模式信号func_mode输出给输出管脚复用单元，将功能模式信号func_mode以及DAC测试模式信号dac_mode输出给DAC数据旁路单元；输入管脚复用单元：接收数模混合集成电路的输入信号DIN，根据来自于模式控制单元的扫描测试模式信号scan_mode、功能模式信号func_mode以及DAC测试模式信号dac_mode，确定输入管脚复用单元的功能输出信号func_do、扫描输出信号scan_do、DAC测试输出信号dac_do；输出管脚复用单元：接收ADC的输出信号adc_di、数字功能逻辑的功能输出信号func_di以及数字功能逻辑的扫描输出信号scan_di，根据来自于模式控制单元的ADC测试模式信号adc_mode、功能模式信号func_mode以及扫描测试模式信号scan_mode，确定输出管脚复用单元的输出信号DOUT，并向外输出，所述输出信号DOUT用于判断第一模拟功能逻辑和ADC的功能设计、数字功能逻辑的功能设计、数字功能逻辑的扫描设计是否正确；DAC数据旁路单元：接收数字功能逻辑的功能输出数据func_data、输入管脚复用单元的DAC测试输出信号dac_do，根据来自于模式控制单元的功能模式信号func_mode，以及DAC测试模式信号adc_mode，确定DAC数据旁路单元的输出数据dac_data，该数据通过DAC和第二模拟功能逻辑向外输出DAC测试结果，所述第二模拟功能逻辑向外输出DAC测试结果用于判断DAC和模拟功能逻辑的功能设计是否正确。