[发明专利]用于测量电位差的导电测量层有效
| 申请号： | 201611196983.6 | 申请日： | 2016-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN106981680B | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | A.格莱特;M.施泰尔 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | H01M10/0525 | 分类号： | H01M10/0525;H01M10/0585;H01M10/42;H01M10/48 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 卢江;杜荔南 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及用于测量测量层的第一电抽头和至少一个第二电抽头之间的电位差的导电测量层，其中测量层具有至少一个第一材料层，该第一材料层具有基本上与温度无关的电阻。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 电位差 导电 | ||
【主权项】：
用于测量测量层（440、540、640、740、840、940、1040、1140、1240）的第一电抽头（850、950、1050、1150、1250）和至少一个第二电抽头（860、960、1060、1160、1260）之间的电位差的导电的测量层（440、540、640、740、840、940、1040、1140、1240），其中测量层（440、540、640、740、840、940、1040、1140、1240）具有至少一个材料层（641、742、841、942、1041、1142、1242（1）），所述材料层具有基本上与温度无关的电阻。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗伯特·博世有限公司，未经罗伯特·博世有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201611196983.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：β‑咔啉、γ‑咔啉衍生物、其制备方法及用途
- 下一篇：一种他达拉非的制备方法
