[发明专利]卡尺检具在审

专利信息
申请号: 201611180669.9 申请日: 2016-12-19
公开(公告)号: CN106679529A 公开(公告)日: 2017-05-17
发明(设计)人: 谢才智;袁仍;冯志芳;叶凌华 申请(专利权)人: 广电计量检测(北京)有限公司;广州广电计量检测股份有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B3/20
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 秦雪梅;刘静
地址: 100027 北京市北京经济*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种卡尺检具,包括第一检具,第一检具包括两个分离的基体,每个基体包括第一基座、第一平面测块、第一滑块和第一锁紧件,第一平面测块可移动地设于第一基座,第一滑块连接于第一锁紧件,第一锁紧件可相对第一基座移动以通过第一滑块推动第一平面测块移动,并可相对第一基座定位以限定第一平面测块的位置,两个基体对称设置从而使两个第一平面测块相对而设。采用本卡尺检具的第一检具,由于两个基体是分离的,因此可根据需要在两个第一平面测块之间放置数量和尺寸不同的量块,即使卡尺量程较大仍能满足需要,同时,由于两个基体是分离的,不使用时卡尺检具体积较小,便于携带。
搜索关键词: 卡尺
【主权项】:
一种卡尺检具,其特征在于,包括第一检具,所述第一检具包括两个分离的基体,每个所述基体包括第一基座、第一平面测块、第一滑块和第一锁紧件,所述第一平面测块可移动地设于所述第一基座,所述第一滑块连接于所述第一锁紧件,所述第一锁紧件可相对所述第一基座移动以通过所述第一滑块推动所述第一平面测块移动,并可相对所述第一基座定位以限定所述第一平面测块的位置,两个所述基体对称设置从而使两个所述第一平面测块相对而设。
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