[发明专利]一种模块LOS的测试设备及其测试方法在审

专利信息
申请号: 201611159314.1 申请日: 2016-12-15
公开(公告)号: CN106788692A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 张德玲;付永安 申请(专利权)人: 武汉电信器件有限公司
主分类号: H04B10/07 分类号: H04B10/07;H04B10/075;H04B10/077
代理公司: 北京中北知识产权代理有限公司11253 代理人: 段秋玲
地址: 430000 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种模块LOS的测试设备,该测试设备包括光模块和测试板,所述光模块包括第一微型处理器、IC芯片和光模块金手指接口,所述第一微型处理器接收并判断IC芯片所发出的LOS信号,所述光模块金手指接口将所述第一微型处理器所判断的LOS信号输出;所述测试板包括测试板插座、硬件检测装置和第二微型处理器,所述测试板插座与所述光模块金手指接口相连接;所述硬件检测装置检测对所述测试板的电路进行检测;所述第二微型处理器对所述测试板上的LOS信号进行检测;能够完全保证硬件与软件的同步检测,即使在现有的测试条件下对于一些硬件上出现的问题都能够测试出来。
搜索关键词: 一种 模块 los 测试 设备 及其 方法
【主权项】:
一种模块LOS的测试设备,其特征在于,该测试设备包括:光模块和测试板,所述光模块包括第一微型处理器、IC芯片和光模块金手指接口,所述第一微型处理器接收并判断IC芯片所发出的LOS信号,所述光模块金手指接口将所述第一微型处理器所判断的LOS信号输出;所述测试板包括测试板插座、硬件检测装置和第二微型处理器,所述测试板插座与所述光模块金手指接口相连接;所述硬件检测装置对所述测试板上的LOS信号同步发出告警指示;所述第二微型处理器对所述测试板上的LOS信号进行检测。
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