[发明专利]一种电子器件的热阻测量方法和系统有效
申请号: | 201611126417.8 | 申请日: | 2016-12-09 |
公开(公告)号: | CN108226218B | 公开(公告)日: | 2019-11-08 |
发明(设计)人: | 杨连乔;刘亚男;徐小雪;张建华 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;G06F17/13;G06F17/18 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 冯华 |
地址: | 200436*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种电子器件的热阻测量方法和系统,包括:采集待测电子器件在阶跃功率下的冷却曲线f(k);其中,k表示对数时间;利用贝叶斯迭代差分算法计算冷却曲线f(k)的导数;采用贝叶斯迭代法对冷却曲线f(k)的导数进行反卷积处理,得到时间常数谱;依据所述时间常数谱获取每一个Foster型网络单元的热阻和热容,并依据获取的热阻和热容构建Foster型网络模型;将构建的所述Foster型网络模型转换为Cauer型网络模型。本发明在保证结果准确的同时,最大程度地降低了噪声对时间常数谱转换的影响,更加准确地反映电子器件的热阻。 | ||
搜索关键词: | 热阻 电子器件 冷却曲线 时间常数 网络模型 贝叶斯 导数 构建 热容 测量 反卷积处理 最大程度地 差分算法 网络单元 迭代法 转换 迭代 阶跃 噪声 采集 保证 | ||
【主权项】:
1.一种电子器件的热阻测量方法,其特征在于,包括:采集待测电子器件在阶跃功率下的冷却曲线f(k);其中,k表示对数时间;利用贝叶斯迭代差分算法计算冷却曲线f(k)的导数
采用贝叶斯迭代法对冷却曲线f(k)的导数
进行反卷积处理,得到时间常数谱;依据所述时间常数谱获取每一个Foster型网络单元的热阻和热容,并依据获取的热阻和热容构建Foster型网络模型;将构建的所述Foster型网络模型转换为Cauer型网络模型。
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