[发明专利]一种基于偏振散射特征的颗粒物形态测量方法和装置有效
| 申请号： | 201611123394.5 | 申请日： | 2016-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN106769709B | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 曾楠;马辉;陈玥蓉;何永红;李达 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/00 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 王震宇 |
| 地址： | 518055 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于偏振散射特征的颗粒物形态测量方法和装置，该方法包括以下步骤：探测当前颗粒物对激光散射后的散射光，其中对70‑110度范围内的特定散射角度θ下的散射偏振光进行测量；提取散射光的偏振通道电压，计算散射光的Stokes矢量，根据Stokes矢量得到Mueller矩阵M中的元素a2(θ)、b1(θ)、a1(θ)、b1(θ)，并通过对元素a2(θ)、b1(θ)、a1(θ)、b1(θ)的计算，得到特征偏振参量K2；根据K2的值分析和确定颗粒物形态。本发明操作简单快捷，测量范围广，局限性小，减少了探测器的数量，降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒物 偏振 散射光 方法和装置 散射特征 形态测量 散射 偏振光 测量 矩阵 激光散射 通道电压 探测器 参量 探测 分析 | ||
【主权项】：
1.一种基于偏振散射特征的颗粒物形态测量方法，其特征在于，包括以下步骤：探测颗粒物对激光散射后的散射光，其中对70‑110度范围内的特定散射角度θ下的散射偏振光进行测量；提取散射光的偏振通道电压，计算散射光的Stokes矢量，根据Stokes矢量得到Mueller矩阵M中的矩阵元素a2(θ)、b1(θ)、a1(θ)、b1(θ)，并通过对元素a2(θ)、b1(θ)、a1(θ)、b1(θ)的计算，得到特征偏振参量K2：![]()
K2＝(a2(θ)+b1(θ))/(a1(θ)+b1(θ))；根据K2的值分析和确定颗粒物形态。
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